便携式数显测厚仪，技术参数:

sku:5622.1采用磁性测厚法测量磁性金属基体上的非磁性涂镀层的厚度.
sku:5622.2采用蜗流测厚法测量非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度.

2测量模式:连续/单身
　　5统计方式:均值价值观/ Min. /不/测试数字值。(不)/标准差(S.DeV)，15测量读数存储，低电池指示，自动切断，实时或批量打印



技术参数：

产品名称	介绍	单位	价格
国产便携式数显测厚仪(0-1250μm)  SKU:00005622.1	便携式数显测厚仪；采用磁性测厚法测量磁性金属基体上的非磁性涂镀层的厚度；测量范围:0~1250μm；低限分辩率:1μm(10μm以下0.1μm) ；示值误差:零点校准 ±（3%H+1）μm，二点校准:±[（1~3%）H+1]μm ；测试条件:最小曲率半径 凸1.5mm，凹9mm ；最小面积直径:7mm ；基体临界厚度:0.5mm；使用环境:温度 0~40℃，温度 20%~75%，无强磁场环境 电源 二节3.6V镍镉电池；测量精度:±（3%H+1.5）μm；尺寸:L150*W55.5*H23mm；重量:0.15kg；产地:中国		询价
国产便携式数显测厚仪(0-1250μm)  SKU:00005622.2	便携式数显测厚仪；采用蜗流测厚法测量非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度；测量范围:0-1250μm；测量精度:±（3%H+1.5）μm（零点校准），±[(1～3)%H+1.5] μm（二点校准）；尺寸:L150*W50.5*H23mm；重量:0.15kg；产地:中国		询价

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