尚尤提供此款少子寿命测试仪;
该仪器用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命;参考美国 A.S.T.M 标准而设计。仪器灵敏度高，配备有红外光源，可测量包括IC级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等；
测试单晶电阻率范围:>2Ω.cm；
可测单晶少子寿命范围:5μS-7000μS；
配备光源类型:红外光源，波长:1.09μm；



技术参数：

产品名称	介绍	单位	价格
国产单晶少子寿命测试仪(>2Ω.cm)  SKU:00237412.1	少子寿命测定仪；技术指标:测试单晶电阻率范围:>2Ω.cm；可测单晶少子寿命范围:5μS～7000μS；配备光源类型:波长:1.09μm；余辉<1μS；闪光频率为:20～30次／秒；闪光频率为:20～30次／秒；高频振荡源:用石英谐振器，振荡频率:30MHz；前置放大器:放大倍数约25，频宽2 Hz-1MHz；仪器测量重复误差:<±20％；测量方式:采用对标准曲线读数方式；仪器消耗功率:<25W；仪器工作条件:温度:10-35℃、湿度<80％；使用电源:AC 220V，50Hz；可测单晶尺寸:断面竖测:φ25mm—150mm； L2mm—500mm；纵向卧测:φ25mm—150mm；L 50mm—800mm；配用示波器:频宽0—20MHz；电压灵敏:10mV/cm；产地:中国	1个	询价

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