尚尤提供此款少子寿命测试仪该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；
测试单晶电阻率范围: >0.3Ω.cm；
可测单晶少子寿命范围: 1μS-10000μS；
配备光源类型:红外光源，波长:1.09μm；
余辉<1 μS；闪光频率为:20-30次／秒；
前置放大器:放大倍数约25；
测量方式:采用对标准曲线读数方式；


技术参数：

产品名称	介绍	单位	价格
国产少子寿命测试仪  SKU:00125315.1	少子寿命测试仪；产地:中国		询价

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